Mejoras
// Mejora de visor de análisis
Dispositivo de inspección
Valor:1 None
Una mejora de circuitería independiente para el visor de análisis que añade la función de análisis del terreno en tiempo real a la matriz de escaneo. Cambia el modo del visor con SURVEYFILTERL/SURVEYFILTERR. Usa el modo de inspección para detectar recursos ocultos en el terreno.
Fuentes de obtención
- Plano:320 nanitos
Cómo obtenerlo1
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